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技术常识

涂层测厚仪影响因素问与答(二)

来源:时代集团 发布日期:2019-09-24 15:07:25
  3.如何系统校准?
  校准的方法、种类,这是新用户经常会遇到的问题。系统校准、零点校准还有两点校准其实都已经在说明书上写到了,用户只需仔细阅读就可以了。需要注意的是:在校准铁基时最好是多测量几次以防止错误操作;系统校准的样片要按照从小到大的顺序进行。如果个别标准片丢失可以找与其数值相近的样片代替。
  4.有时开机出现干扰是什么原因?
  开机后仪器屏幕出现测量状态箭头不能再次进行测量,就说明仪器受到了干扰。主要有两个原因:
  (1)开机时探头离铁基太近,因为铁基磁场的影响而受到了干扰。
  (2)没插好探头或者探头线有损伤。
  涂层和覆层测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环,是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对涂层覆层厚度测量有了明确的要求和规定。
  涂层厚度的测量方法主要有:楔切法涂层测量,光截法涂层测量,电解法涂层测量,厚度差测量法,称重法涂层测量,χ射线荧光法涂层测量,β射线反向散射法涂层测量,电容法涂层测量,磁性测量法和涡流测量法测量厚度等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。随着科学技术的日益进步。
 
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